金融界2025年1月18日消息，國家知識產權局信息顯示，深圳英集芯科技股份有限公司申請一項名爲“一種芯片FT測試中的開爾文測試方法”的專利，公開號CN 119310331 A，申請日期爲2024年9月。

專利摘要顯示，本發明公開了一種芯片FT測試中的開爾文測試方法，應用於FT測試電路，所述FT測試電路包括系統拉載電路、電阻R1、模擬接觸阻抗R2、模擬接觸阻抗R3、採樣電阻R4、開關S1和外部運放U1，採樣電阻R4的正端經串接電阻R1與芯片的CSP端電連接，採樣電阻R4的負端與模擬接觸阻抗R2的一端分別接系統GND，模擬接觸阻抗R2的另一端與芯片的GND_K(CSN)端電連接，開關S1與採樣電阻R4並聯，採樣電阻R4的正端還分別與外部運放U1的正向輸入端、所述系統拉載電路電連接，模擬接觸阻抗R3的一端與芯片的GND_P(CSN)端電連接，模擬接觸阻抗R3的另一端與外部運放U1的反向輸入端電連接。

天眼查資料顯示，深圳英集芯科技股份有限公司，成立於2014年，位於深圳市，是一家以從事計算機、通信和其他電子設備製造業爲主的企業。企業註冊資本42477.066萬人民幣，實繳資本37800萬人民幣。通過天眼查大數據分析，深圳英集芯科技股份有限公司共對外投資了13家企業，知識產權方面有商標信息6條，專利信息254條，此外企業還擁有行政許可19個。