金融界2025年1月18日消息，国家知识产权局信息显示，深圳英集芯科技股份有限公司申请一项名为“一种芯片FT测试中的开尔文测试方法”的专利，公开号CN 119310331 A，申请日期为2024年9月。
专利摘要显示，本发明公开了一种芯片FT测试中的开尔文测试方法，应用于FT测试电路，所述FT测试电路包括系统拉载电路、电阻R1、模拟接触阻抗R2、模拟接触阻抗R3、采样电阻R4、开关S1和外部运放U1，采样电阻R4的正端经串接电阻R1与芯片的CSP端电连接，采样电阻R4的负端与模拟接触阻抗R2的一端分别接系统GND，模拟接触阻抗R2的另一端与芯片的GND_K(CSN)端电连接，开关S1与采样电阻R4并联，采样电阻R4的正端还分别与外部运放U1的正向输入端、所述系统拉载电路电连接，模拟接触阻抗R3的一端与芯片的GND_P(CSN)端电连接，模拟接触阻抗R3的另一端与外部运放U1的反向输入端电连接。
天眼查资料显示，深圳英集芯科技股份有限公司，成立于2014年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本42477.066万人民币，实缴资本37800万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳英集芯科技股份有限公司共对外投资了13家企业，知识产权方面有商标信息6条，专利信息254条，此外企业还拥有行政许可19个。
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